CT-Scan Elektronik: Baugruppen zerstörungsfrei prüfen

Baugruppen prüfen, ohne sie zu zerstören

Lötfehler, Verbindungsprobleme oder Materialdefekte in elektronischen Baugruppen – wie erkennt man sie, ohne die Baugruppe zu zerlegen? Die Antwort: Industrielle Computertomographie.

Video: LED-Tannenbaum im CT-Scan

Was wird sichtbar?

In diesem Q-Tech Spotlight scannen wir einen LED-Tannenbaum – ein ungewöhnliches, aber technisch hochrelevantes Beispiel. Jede Platine, jede Leiterbahn und jede Lötstelle wird vollständig sichtbar, ohne ein einziges Bauteil zu beschädigen.

Typische Anwendungen in der Elektronikprüfung

• Lötstelleninspektion bei SMD- und THT-Baugruppen
• Erkennung von Lunkern und Hohlräumen in Lötstellen
• Überprüfung von BGA-Verbindungen (Ball Grid Array)
• Analyse von Multilayer-Platinen auf Delaminierung
• Verifizierung der Bauteilplatzierung in der Serienproduktion

Ihre Vorteile

Zerstörungsfreie Elektronikprüfung spart Zeit und schützt wertvolle Prototypen. Mit unserer CT-Technologie erhalten Sie lückenlose Transparenz über die innere Qualität Ihrer Baugruppen.

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